內藏砝碼校正中的誤差修正方法：

1.浮力的影響

由于質(zhì)量是在大氣中測量的，因此，就必須考慮空氣浮力的影響。但是內藏砝碼是用同*種材料制做的，因此，它的密度是相同的，同時(shí)，砝碼的質(zhì)量是經(jīng)過(guò)嚴格調整的，而且在*組測量中，大約只需要30min的時(shí)間，通過(guò)實(shí)際的計算和分析，如在測量過(guò)程中，空氣密度的變化小于1%，那么，浮力修正量就非常小，沒(méi)有必要進(jìn)行修正。

2.重力的影響

直讀天平的內藏砝碼是放在秤盤(pán)的上方，因此，內藏砝碼與放在秤盤(pán)上的被稱(chēng)物不可能在同*水平面上。由于這個(gè)*度差使重力加速度不同，因此，把內藏砝碼取出來(lái)進(jìn)行檢定時(shí)，有必要進(jìn)行重力修正。但是，在本方法中,是把內藏砝碼進(jìn)行組合測量的,在測量值中已經(jīng)包含有重力修正量,因此,就不需修正。

為了比較這種檢定方法和過(guò)去的方法*產(chǎn)生的誤差大小，可以根據內藏砝碼的組成，把前面*得到的質(zhì)量差的測量數據寫(xiě)成觀(guān)測式，然后用*小二乘法求解，來(lái)檢定各個(gè)內藏砝碼，把與各個(gè)指示值相對應的砝碼進(jìn)行組合，就能求出與(10)式的Cm(n)相對應的系數。在圖1中用黑圓點(diǎn)表示，從圖看出，本方法*得到的系數偏大，但在*大值上幾乎是相同的。因此，如果用*大誤差來(lái)評定，那么這兩種方法是差不多的。

本檢定方法存在-*個(gè)問(wèn)題，就是為了使校正值有*個(gè)確定的數值，因此就不能根據*組觀(guān)測值來(lái)評價(jià)誤差的大小，這是*個(gè)缺點(diǎn)。為此，必須用別的方法進(jìn)行重復測量，來(lái)估算它的重復性。

2.第2位以后的情況

對于第2位的校正值，它的校正誤差em-1(n)取決于標準器Um-1(口)的校正誤差和這*位的隨機測量誤差。

標準器*引起的誤差，隨前*位中的差分方程式的個(gè)數成反比例減小，校正倍數增加,它就顯著(zhù)減小。因此,對第2位以后的各位進(jìn)行校正時(shí)，標準器的不確定度*產(chǎn)生的影響幾乎可以忽略。

對于隨機誤差產(chǎn)生的影響通常在評價(jià)下*位的校正誤差時(shí),可以不考慮前面第2位的隨機誤差*產(chǎn)生的影響，而只要考慮前*位隨機誤差對它的影響就可以了。

內藏砝碼校正中的誤差修正方法